موسسه پلکان | کلینیک تخصصی مالکیت فکری(ثبت اختراع وبرند)

اختراع اولین میکروسکوپ اسکن مترولوژی | موسسه پلکان

 

اختراع اولین میکروسکوپ اسکن مترولوژی 

 

 

اختراع اولین میکروسکوپ اسکن مترولوژی میکروسکوپ جدیدی که به دانشمندان اجازه اندازه‌گیری مواد و ساختارهای یک میلیون بار کوچکتر از دانه شن را می‌دهد، در موسسه ملی سنجش استرالیا بهره‌برداری شد.

 

 

 

 کیم کار، وزیر ابتکار، صنعت، علم و پژوهش استرالیا با اعلام این خبر اظهار کرد که اولین میکروسکوپ کاوشگر اسکن مترولوژیکی(mSPM) می‌تواند فرصتهای شغلی جدیدی ایجاد کند.

میکروسکوپ منحصربفرد توسط دانشمندان و مهندسان موسسه ملی سنجش با مشخصات بسیار دقیق طراحی و ساخته شده است.

کار گفت: میکروسکوپ mSPM نقطه اوج پنج سال کار بوده و با ارائه سنجشهای بسیار دقیق در مقیاس نانو جامعه استرالیا را در مورد تصمیمات گرفته شده در حوزه نانوفناوری مطمئن خواهد کرد.

سنجشهای انجام شده توسط این میکروسکوپ بطور مستقیم با واحد طول دستگاه بین‌المللی یکاها یعنی متر قابل پیگیری هستند. این امر مقایسه آنها با سنجشهای مشابه در هر نقطه از جهان را ممکن ساخته و اصل «یکبار اندازه‌گیری در تمام جهان قابل قبول است» را محقق می‌کند.

منبع :خبرگزاری ایسنا

نوشته شده توسط روابط عمومی پلکان در تاریخ سه شنبه ۱۵ مرداد ۱۳۹۲
دیدگاه خود را بنویسید :
نام و نام خانوادگی :
پست الکترونیکی :
دیدگاه شما :